idt7026s/l
高-速 16k x 16 双-端口 静态的 内存 军队 和 商业的 温度 范围
6.17 7
IDT7026X35 IDT7026X55
标识 参数 最小值 最大值 最小值 最大值 单位
读 循环
t
RC
读 循环 时间 35 — 55 — ns
t
AA
地址 进入 时间 — 35 — 55 ns
t
ACE
碎片 使能 进入 时间
(3)
—35—55ns
t
ABE
字节 使能 进入 时间
(3)
—35—55ns
t
AOE
输出 使能 进入 时间 — 20 — 30 ns
t
OH
输出 支撑 从 地址 改变 3 — 3 — ns
t
LZ
输出 低-z 时间
(1, 2)
3—3—ns
t
HZ
输出 高-z 时间
(1, 2)
—15—25ns
t
PU
碎片 使能 至 电源 向上 时间
(2)
0—0—ns
t
PD
碎片 使不能运转 至 电源 向下 时间
(2)
—35—50ns
t
SOP
semaphore 标记 更新 脉冲波 (
OE
或者
SEM
)15—15—ns
t
SAA
semaphore 地址 进入 时间 — 35 — 55 ns
交流 测试 情况
输入 脉冲波 水平 地 至 3.0v
输入 上升/下降 时间 5ns 最大值
输入 定时 涉及 水平 1.5v
输出 涉及 水平 1.5v
输出 加载 计算数量 1 和 2
2939 tbl 11
交流 电的 特性 在 这
运行 温度 和 供应 电压 范围
(4)
IDT7026X20 IDT7026X25
com'l. 仅有的
标识 参数 最小值 最大值 最小值 最大值 单位
读 循环
t
RC
读 循环 时间 20 — 25 — ns
t
AA
地址 进入 时间 — 20 — 25 ns
t
ACE
碎片 使能 进入 时间
(3)
—20—25ns
t
ABE
字节 使能 进入 时间
(3)
—20—25ns
t
AOE
输出 使能 进入 时间 — 12 — 13 ns
t
OH
输出 支撑 从 地址 改变 3 — 3 — ns
t
LZ
输出 低-z 时间
(1, 2)
3—3—ns
t
HZ
输出 高-z 时间
(1, 2)
—12—15ns
t
PU
碎片 使能 至 电源 向上 时间
(2)
0—0—ns
t
PD
碎片 使不能运转 至 电源 向下 时间
(2)
—20—25ns
t
SOP
semaphore 标记 更新 脉冲波 (
OE
或者
SEM
)10—12—ns
t
SAA
semaphore 地址 进入 时间 — 20 — 25 ns
2939 tbl 12
2939 drw 05
893
Ω
30pF347
Ω
5V
数据
输出
BUSY
INT
893
Ω
5pF347
Ω
5V
数据
输出
2939 drw 04
图示 1. 交流 输出 加载 图示 2. 输出 测试 加载
(为 t
LZ
, t
HZ
, t
WZ
, t
OW
)
* 包含 scope 和 jig.
注释:
1. 转变 是 量过的
±
200mv 从 低 或者 高-阻抗 电压 和 输出 测试 加载 (图示 2).
2. 这个 参数 是 有保证的 用 设备 描绘, 但是 是 不 生产 测试.
3. 至 进入 内存,
CE
= v
IL
和
SEM
= v
IH
. 至 进入 semaphore,
CE
= v
IH
和
SEM
= v
IL
.
4. "x" 在 部分 号码 indicates 电源 比率 (s 或者 l).
: 点此下载
