adg451/adg452/adg453
rev. 一个
–3–
单独的 供应
b 版本
T
最小值
至
参数 +25
CT
最大值
单位 测试 情况/comments
相似物 转变
相似物 信号 范围 0 v 至 v
DD
V
在-阻抗 (r
在
)6
Ω
典型值 V
D
= 0 v 至 10 v, i
S
= –10 毫安
810
Ω
最大值
在-阻抗 相一致 在 0.1
Ω
典型值 V
D
= 10 v, i
S
= –10 毫安
途径 (
∆
R
在
) 0.5 0.5
Ω
最大值
在-阻抗 flatness (r
flat(在)
) 1.0 1.0
Ω
典型值 V
D
= 0 v, +5 v, i
S
= –10 毫安
泄漏 电流
2, 3
源 止 泄漏 i
S
(止)
±
0.02 na 典型值 V
D
= 0 v, 10 v, v
S
= 0 v, 10 v;
±
0.5
±
2.5 na 最大值 测试 电路 2
流 止 泄漏 i
D
(止)
±
0.02 na 典型值 V
D
= 0 v, 10 v, v
S
= 0 v, 10 v;
±
0.5
±
2.5 na 最大值 测试 电路 2
频道 在 泄漏 i
D
, i
S
(在)
±
0.04 na 典型值 V
D
= v
S
= 0 v, 10 v;
±
1
±
5 na 最大值 测试 电路 3
数字的 输入
输入 高 电压, v
INH
2.4 v 最小值
输入 低 电压, v
INL
0.8 v 最大值
输入 电流
I
INL
或者 i
INH
0.005
µ
一个 典型值 V
在
= v
INL
或者 v
INH
±
0.5
µ
一个 最大值
动态 特性
4
t
在
100 ns 典型值 R
L
= 300
Ω
, c
L
= 35 pf;
220 260 ns 最大值 V
S
= +8 v; 测试 电路 4
t
止
80 ns 典型值 R
L
= 300
Ω
, c
L
= 35 pf;
160 200 ns 最大值 V
S
= +8 v; 测试 电路 4
破裂-在之前-制造 时间 延迟, t
D
15 ns 典型值 R
L
= 300
Ω
, c
L
= 35 pf;
(adg453 仅有的) 10 10 ns 最小值 V
S1
= v
S2
= +8 v;
测试 电路 5
承担 injection 10 pc 典型值 V
S
= 0 v, r
S
= 0
Ω
, c
L
= 1.0 nf;
测试 电路 6
频道-至-频道 串扰 –90 db 典型值 R
L
= 50
Ω
, c
L
= 5 pf, f = 1 mhz;
测试 电路 8
C
S
(止) 15 pf 典型值 f = 1 mhz
C
D
(止) 15 pf 典型值 f = 1 mhz
C
D
, c
S
(在) 100 pf 典型值 f = 1 mhz
电源 (所需的)东西 V
DD
= +13.2 v
数字的 输入 = 0 v 或者 5 v
I
DD
0.0001
µ
一个 典型值
0.5 5
µ
一个 最大值
I
L
0.0001
µ
一个 典型值
0.5 5
µ
一个 最大值 V
L
= +5.5 v
I
地
4
0.0001
µ
一个 典型值
0.5 5
µ
一个 最大值 V
L
= +5.5 v
注释
1
温度 范围 是 作 跟随: b 版本: –40
°
c 至 +85
°
c.
2
T
最大值
= +70
°
c.
3
测试 和 双 供应.
4
有保证的 用 设计, 不 主题 至 生产 测试.
规格 主题 至 改变 没有 注意.
(v
DD
= +12 v, v
SS
= 0 v, v
L
= +5 v, 地 = 0 v. 所有 规格 t
最小值
至 t
最大值
除非 否则 指出.)
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