HY57V161610DTC-10_集成电路资料查询网

HY57V161610D
rev. 4.0/8月. 02
3
函数的 块 图解
1mx16 同步的 dram
column 地址.
获得 &放大; 计数器
burst 长度
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i/o 控制测试 模式模式 寄存器
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行 解码器
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自动/自 refresh
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数据 输入/输出 缓存区
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HY57V161610D rev. 4.0/8月. 02 3 函数的块图解 1mx16 同步的 dram column 地址. 获得 &放大; 计数器 burst 长度计数器 Refresh 间隔计时器 Refresh 计数器 DQ0 DQ1 DQ2 DQ3 DQ4 DQ5 DQ6 DQ7 DQ8 DQ9 DQ10 DQ11 DQ12 DQ13 DQ14 DQ15 地址寄存器 i/o 控制测试模式模式寄存器自 refresh 计数器 column 解码器 sense 放大 &放大; i/o 门 512Kx16 bank 0 column 解码器 sense 放大 &放大; i/o 门 512Kx16 bank 1 RAS CAS CS 我们 UDQM LDQM CKE Precharge Overflow column 起作用的行起作用的 address[0:10] CLK ba(a11) 状态机器行解码器行地址. 获得/predecoder 自动/自 refresh ref. 地址.[0:11] 数据输入/输出缓存区行地址. 获得/predecoder

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