交流 charACTERISTICS
(1) 读 循环 (t
一个
= 0 至 +70
°
c, v
CC
= 5 v
±
10%)
参数 标识 最小值 最大值 单位 便条
Read cycle 时间 t
RC
100 ns
增加ress 进入 时间
t
AA
100 ns
Chip enable
access 时间
(
CE
1
)t
交流E1
100 ns
(ce
2
)t
交流E2
100 ns
输出放enable 进入 时间 t
OE
40 ns
输出放hold时间 t
OH
10 ns
Chip enable至
输出放在Low-z
(
CE
1
)t
LZ1
10 ns 1
(ce
2
)t
LZ2
10 ns 1
输出放enable to output in
低-z
t
OLZ
5ns1
Chip enable至
输出放在High-Z
(
CE
1
)t
HZ1
030ns1
(ce
2
)t
HZ2
030ns1
输出放disable 至 output 在
High-z
t
OHZ
020ns1
便条:
1.
起作用的 输出至高-impedance 和高-impedance 至 输出起作用的 tests指定 为一个
±
200 mv 转变
从稳步的 state levels into这 测试加载.
(2) 写 cycle (t
一个
= 0 至 +70
°
c, v
CC
= 5 v
±
10%)
参数 SYMBOL 最小值 最大值 UNIT 便条
Write cycle 时间 t
WC
100 ns
Chip enable至终止的write t
CW
80 ns
增加ress valid 至 终止 的write t
AW
80 ns
增加ress setup time t
作
0ns
Write 脉冲波 宽度 t
WP
60 ns
Write recovery 德州仪器me t
WR
0ns
Dat一个 valid 至 终止 的 write t
DW
40 ns
Dat一个 支撑 时间 t
DH
0ns
输出放交流tive 从 终止 的 写 t
OW
10 ns 1
我们至输出放在High-z t
WZ
030ns1
OE至输出放在High-z t
OH Z
020ns1
便条:
1.
起作用的 输出至高-impedance 和高-impedance 至 输出起作用的 tests指定 为一个
±
200 mv 转变
从稳步的 state levels into这 测试加载.
交流 测试 情况
参数 模式 便条
Inputvoltage振幅 0.6 至 2.4 v
Inputrise/f所有时间 10 ns
德州仪器最小值g reference level 1.5 v
输出 loadconditions 1ttl + c
L
(100 pf) 1
便条:
1. 包含 scope 和 jig capacitance.
LH5268A cmos 64k (8K
×
8) 静态的 内存
4
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