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mbt3904dw1t1, mbt3904dw2t1
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3
切换 特性
典型的 标识 最小值 最大值 单位
延迟 时间 (v
CC
= 3.0 vdc, v
是
= −0.5 vdc) t
d
− 35
ns
上升 时间 (i
C
= 10 madc, i
B1
= 1.0 madc) t
r
− 35
ns
存储 时间 (v
CC
= 3.0 vdc, i
C
= 10 madc) t
s
− 200
ns
下降 时间 (i
B1
= i
B2
= 1.0 madc) t
f
− 50
ns
图示 1. 延迟 和 上升 时间
相等的 测试 电路
图示 2. 存储 和 下降 时间
相等的 测试 电路
+3 v
275
10 k
1N916
C
s
< 4 pf*
+3 v
275
10 k
C
s
< 4 pf*
< 1 ns
−0.5 v
+10.9 v
300 ns
职责 循环 = 2%
< 1 ns
−9.1 v
′
+10.9 v
职责 循环 = 2%
t
1
0
10 < t
1
< 500

s
* 总的 调往 电容 的 测试 jig 和 连接器

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mbt3904dw1t1, mbt3904dw2t1 http://onsemi.com 3 切换特性典型的标识最小值最大值单位延迟时间 (v CC = 3.0 vdc, v 是 = −0.5 vdc) t d − 35 ns 上升时间 (i C = 10 madc, i B1 = 1.0 madc) t r − 35 ns 存储时间 (v CC = 3.0 vdc, i C = 10 madc) t s − 200 ns 下降时间 (i B1 = i B2 = 1.0 madc) t f − 50 ns 图示 1. 延迟和上升时间相等的测试电路图示 2. 存储和下降时间相等的测试电路 +3 v 275 10 k 1N916 C s < 4 pf* +3 v 275 10 k C s < 4 pf* < 1 ns −0.5 v +10.9 v 300 ns 职责循环 = 2% < 1 ns −9.1 v ′ +10.9 v 职责循环 = 2% t 1 0 10 < t 1 < 500  s * 总的调往电容的测试 jig 和连接器

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