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资料编号:54171
 
资料名称:IRG4BC30UD
 
文件大小: 234.03K
   
说明
 
介绍:
INSULATED GATE BIPOLAR TRANSISTOR WITH ULTRAFAST SOFT RECOVERY DIODE(Vces=600V, Vce(on)typ.=1.95V, @Vge=15V, Ic=12A)
 
 


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本平台电子爱好着纯手工中文简译:截至2020/5/17日,支持英文词汇500个
IRG4BC30UD
www.irf.com 5
图. 7 -
典型 电容 vs.
集电级-至-发射级 电压
图. 8
- 典型 门 承担 vs.
门-至-发射级 电压
图. 9
- 典型 切换 losses vs. 门
阻抗
图. 10
- 典型 切换 losses vs.
接合面 温度
0
400
800
1200
1600
2000
1 10 100
CE
c, 电容 (pf)
V, collecr-至-emitter voltag e (v)
一个
V=0V, f = 1MHz
C=C+c , cSHORTE D
C=C
C=C+C
GE
iesgegcce
resgc
oescegc
C
ies
C
res
C
oes
0
4
8
12
16
20
0 1020304050
GE
V, gate-至-emitter voltage (v )
g
Q , total g 一个teC h一个rg e (nc)
一个
v = 400v
i =12一个
CE
C
总的 switchig losses (mj)
0.1
1
10
-60 -40 -20 0 20 40 60 80 100 120 140 160
一个
t , 接合面 温度(
°
C)
J
R=23
V=15V
V=480V
i = 24a
i = 12a
i = 6.0a
G
GE
CC
C
C
C
总的 switchig losses (mj)
0.50
0.52
0.54
0.56
0.58
0.60
0 102030405060
G
一个
R, gate 阻抗(
)
v = 480v
V=15V
T=25
°
C
i =12一个
CC
GE
J
C
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