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st92f120 - 一般 描述
电压 漏出 横过 这 scr parasitic 电阻, 这
SCR将 是 转变 在; 至 转变 止 这 scr 它 是
需要 至 除去 这 电源 供应 从 这
设备.
这 呈现 st9 设计 实现 布局 和
处理 解决方案 至 decrease 这 影响 的 elec-
trostatic discharges (静电释放) 和 latchup. 的 航线
它 是 不 可能 至 测试 所有 设备, 预定的 至 这 de-
structive nature 的 这 mechanism; 在 顺序 至
保证 产品 可靠性, 引起破坏 tests 是
carried 输出 在 groups 的 设备, 符合 至
意法半导体 内部的 质量 assurance
standards 和 recommendations.
1.2.4.2 protective 接口
虽然 st9 输入/输出 电路系统 有 被 de-
signed 带去 静电释放 和 latchup 问题 在 交流-
计数, 为 那些 产品 和 系统 在哪里
st9 管脚 是 exposed 至 illegal 电压 和 高
电流 injections, 这 用户 是 strongly 推荐-
ed 至 执行 硬件 解决方案 这个 减少
这 风险 的 损坏 至 这 微控制器: 低-通过
过滤 和 clamp 二极管 是 通常地 sufficient 在
阻止 压力 情况.
这 风险 的 having 输出-的-范围 电压 和 cur-
rents 是 更好 为 那些 信号 coming 从 输出-
一侧 这 系统, 在哪里 噪音 效应 或者 uncon-
trolled 尖刺 可以 出现 和 高等级的 probability
比 为 这 内部的 信号; 它 必须 是 underlined
那 在 一些 具体情况, adoption 的 过滤 或者 其它 ded-
icated 接口 circuitries might 影响 global mi-
crocontroller 效能, inducing undesired tim-
ing 延迟, 和 impacting 这 global 系统
速.
图示 3. 数字的 输入/输出 - 推-拉
PIN
输出
缓存区
P
N
P
N
N
输入
缓存区
P
静电释放 保护
CIRCUI尝试
端口 circui尝试
I/o ciRCUI尝试
P
EN
EN
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