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资料编号:1078738
 
资料名称:TMS320VC5416PGE-160 
 
文件大小: 1359674K
   
说明
 
介绍:
32-Bit Digital Signal Processor 
 
 


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   
sprs095e – march 1999 – 修订 将 2000
10
邮递 办公室 盒 1443
houston, 德州 77251–1443
终端 功能 (持续)
终端
名字
descriptioni/o
终端
名字
descriptioni/o
测试 管脚
TCK
‡¶
I
IEEE标准 1149.1 测试 时钟. tck 是 正常情况下 一个 自由-运动 时钟 信号 和 一个 50% 职责 循环. 这 改变
在 测试 进入 端口 (tap) 的 输入 信号 tms 和 tdi 是 clocked 在 这 tap 控制, 操作指南 寄存器,
或者 选择 测试 数据 寄存器 在 这 rising 边缘 的 tck. 改变 在 这 tap 输出 信号 (tdo) 出现 在 这
下落 边缘 的 tck.
TDI
I
ieee 标准 1149.1 测试 数据 输入. 管脚 和 内部的 pullup 设备. tdi 是 clocked 在 这 选择 寄存器
(操作指南 或者 数据) 在 一个 rising 边缘 的 tck.
TDO o/z
IEEE标准 1149.1 测试 数据 输出. 这 内容 的 这 选择 寄存器 (操作指南 或者 数据) 是 shifted 输出
的 tdo 在 这 下落 边缘 的 tck. tdo 是 在 这 高-阻抗 状态 除了 当 这 scanning 的 数据 是 在
progress. tdo 也 变得 在 这 高-阻抗 状态 当 止
是 低.
TMS
I
ieee 标准 1149.1 测试 模式 选择. 管脚 和 内部的 pullup 设备. 这个 串行 控制 输入 是 clocked 在
这 tap 控制 在 这 rising 边缘 的 tck.
TRST
#
I
ieee 标准 1149.1 测试 重置. trst, 当 高, 给 这 ieee 标准 1149.1 scan 系统 控制 的 这
行动 的这 设备. 如果 trst
是 不 连接 或者 驱动 低, 这 设备 运作 在 它的 函数的 模式, 和
这 ieee 标准 1149.1 信号 是 ignored. 管脚 和 内部的 pulldown 设备.
EMU0 i/o/z
emulator 0管脚. 当 trst是 驱动 低, emu0 必须 是 高 为 触发 的 这 止情况. 当 trst
是 驱动 高, emu0 是 使用 作 一个 中断 至 或者 从 这 emulator 系统 和 是 定义 作 输入/输出 用
方法 的 这 ieee 标准 1149.1 scan 系统.
emu1/止 i/o/z
emulator 1 管脚/使不能运转 所有 输出. 当 trst是 驱动 高, emu1/止是 使用 作 一个 中断 至 或者 从 这
emulator 系统 和 是 定义 作 输入/输出 用 方法 的 ieee 标准 1149.1 scan 系统. 当 trst
驱动 低, emu1/止
是 配置 作 止. 这 emu1/止信号, 当 起作用的 低, puts 所有 输出 驱动器 在
这 高-阻抗 状态. 便条 那 止
是 使用 exclusively 为 测试 和 emulation 目的 (不 为
multiprocessing 产品). 因此, 为 这 止
情况, 这 下列的 应用:
TRST
= 低,
emu0 = 高
emu1/止
= 低
i = 输入, o = 输出, z = 高-阻抗, s = 供应
这些 管脚 有 施密特 触发 输入.
§
这个 管脚 有 一个 内部的 总线 holder 控制 用 方法 的 这 bscr 寄存器.
这个 管脚 有 一个 内部的 pullup 电阻.
#
这个 管脚 有 一个 内部的 pulldown 电阻.
产品 预告(展)
这个 材料 版权 用 它的 各自的 生产者
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