sep.1998
这 下列的 测试 电路 是 使用
至 evaluate 这 ipm 特性.
1. V
CE
(sat) 和 v
EC
至 确保 指定 接合面
温度, t
j,
度量
的 v
CE
(sat) 和 v
EC
必须 是
执行 作 低 职责 因素
搏动 tests. (看 计算数量 6.8
和 6.9)
6.2.3 电的 特性 (持续)
标识 参数 定义
控制 部分
V
D
供应 电压 范围 的 容许的 控制 供应 电压 在 切换 运作
I
D
电路 电流 控制 供应 电流 在 保卫-用 模式
V
cin(在)
输入 在-电压 一个 电压 应用 在 输入 (i) 和 地面 (c) 管脚 较少 比 这个 值 将 转变 在 这 ipm
V
cin(止)
输入 止-电压 一个 电压 应用 在 输入 (i) 和 地面 (c) 管脚 高等级的 比 这个 值 将 转变 止 这 ipm
f
PWM
pwm 输入 频率 范围 的 pwm 频率 为 vvvf 反相器 行动
t
dead
arm shoot 通过 时间 延迟 必需的 在 高 和 低 一侧 输入 止/在 信号 至 阻止 一个
blocking 时间 arm shoot 通过
OC 在-电流 trip 水平的 集电级 那 将 活动 这 在-电流 保护
SC 短的-电路 trip 水平的 集电级 电流 那 将 活动 这 短的-电路 保护
t
止(oc)
在-电流 延迟 时间 时间 延迟 之后 集电级 电流 超过 oc trip 水平的 直到 oc 保护 是 使活动
OT 在-温度 trip 水平的 baseplate 温度 那 将 活动 这 在-温度 保护
OT
r
在-温度 温度 那 这 baseplate 必须 下降 在下 至 重置 一个 在-温度 故障
重置 水平的
UV 控制 供应 控制 供应 电压 在下 这个 值 将 活动 这 欠压 保护
欠压 trip 水平的
UV
r
控制 供应 控制 供应 电压 那 必须 超过 至 重置 一个 欠压 故障
欠压 重置 水平的
I
fo(h)
故障 输出 inactive 电流 故障 输出 下沉 电流 当 非 故障 有 occurred
I
fo(l)
故障 输出 起作用的 电流 故障 输出 下沉 电流 当 一个 故障 有 occurred
t
FO
故障 输出 搏动 宽度 持续时间 的 这 发生 故障 输出 脉冲波
V
SXR
sxr 终端 输出 电压 管制 电源 供应 电压 在 sxr 终端 为 驱动 这 外部 optocoupler
6.2.4 推荐 运作 情况
标识 参数 定义
V
CC
主要的 供应 电压 推荐 直流 总线 电压 范围
V
D
控制 供应 电压 推荐 控制 供应 电压 范围
V
cin(在)
输入 在-电压 推荐 输入 电压 范围 至 转变 在 这 ipm
V
cin(止)
输入 止-电压 推荐 输入 电压 范围 至 转变 止 这 ipm
f
PWM
pwm 输入 频率 推荐 范围 的 pwm 运输车 频率 使用 这 推荐 应用 电路
t
DEAD
arm shoot 通过 推荐 时间 延迟 在 高 和 低 一侧 止/在 信号 至 这 optocouplers
blocking 时间 使用 这 推荐 应用 电路
VX1
SXR
CX1
VXC
e1(e2)
c1(c2)
V
D
V
I
C
VX1
SXR
CX1
VXC
e1(e2)
c1(c2)
V
D
V
I
C
图示 6.8 v
CE
(sat) 测试
图示 6.9 v
EC
测试
6.2.5 测试 电路 和 情况
mitsubishi 半导体 电源 modules mos
使用 intelligent 电源 modules
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